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標簽頁開拓創新,高端品質,真摯服務

澤攸科技自研電子束減速技術取得重要突破

澤攸科技自研電子束減速技術取得重要突破

眾所周知,掃描電子顯微鏡是由帶負電的電子束作為光源激發樣品產生信號,從而實現對界面的微觀觀測。理論上,越高的電子束發射能量會帶來越高的分辨率和圖像襯度。但是實際測試過程中并不是發射能量越高越好,高能量的電子束一方面可能損傷樣品,另一方面會在導電性較差的樣品表面聚集,從而極大影響觀測效果。目前比較常用的樣品制備手段是利......

MORE INFO → 【公司新聞】 2021-11-10 qq咨詢 商橋咨詢