<del id="ftxbp"></del>
<span id="ftxbp"></span><strike id="ftxbp"><i id="ftxbp"></i></strike>
<span id="ftxbp"></span>
<span id="ftxbp"></span>
<span id="ftxbp"><i id="ftxbp"><del id="ftxbp"></del></i></span>
<strike id="ftxbp"></strike>
<progress id="ftxbp"><noframes id="ftxbp"><strike id="ftxbp"></strike>

STM-TEM樣品桿每一個設計作品都舉世無雙

當前位置: 主頁 > 產品 > STM-TEM樣品桿

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

日期:2019-09-27

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

         PicoFemto透射電子顯微鏡原位STM-TEM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,并可在電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

         透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環境控制單元,從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。

性能指標

 

 透射電鏡指標:

● 兼容指定電鏡型號及極靴;

● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);

● 保證透射電鏡原有分辨率。

 

電學測量指標:

● 包含一個電流電壓測試單元;

● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;

● 電流分辨率:優于100 fA;

● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;

● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

 

掃描探針操縱指標:

● 粗調范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 細調范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 細調分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

 

低溫參數指標:

● 兼容指定型號透射電鏡及極靴;

● 全溫區結構分辨率優于0.2 nm;

● 變溫范圍為85 K-380 K,溫度穩定性優于±0.1 K。

 

產品特色
 

(1)溫度連續可控,穩定性高;

(2)低溫下可實現對樣品施加應力及電學研究。

 

                以上就是澤攸科技對PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統的介紹,關于整套系統價格請咨詢18817557412(微信同號)

澤攸微信二微碼

透射電鏡TEM/掃描電鏡SEM核心產品推薦

ZEM15國產臺式掃描電鏡

國產臺式掃描電鏡來了

透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統

透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統

透射電鏡原位高溫力學測量系統

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統

透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統

透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統

透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統

透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統

透射電鏡冷凍樣品桿

透射電鏡真空轉移樣品桿(單/雙傾)

透射電鏡多孔樣品桿(單/雙傾)

透射電鏡360°水平旋轉樣品桿(單/雙傾)

透射電鏡原位拉伸樣品桿

透射電子顯微鏡樣品桿預抽存儲系統

掃描電鏡原位光電力一體化系統

掃描電鏡原位液體-電化學測量系統

掃描電鏡原位高溫拉伸臺

掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統


TAG:
TEM價格 樣品桿廠家 TEM低溫電學測量系統 掃描隧道顯微鏡 STM 原位TEM 原位樣品桿 透射電鏡樣品桿 低溫樣品桿

作者:小攸