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STM-TEM樣品桿每一個設計作品都舉世無雙

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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統

日期:2019-09-27

原位MEMS-STM-TEM多場測量系統

         該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統,使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境(包括力、熱、光、電等),從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。
 

性能指標
 

 透射電鏡指標:

● 兼容指定電鏡型號及極靴;

● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);

 

電學測量指標:

● 包含一個電流電壓測試單元;

● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;

● 電流分辨率:優于100 fA;

● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;

● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。

 

掃描探針操縱指標:

● 粗調范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;

● 細調范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;

● 細調分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。

 

光纖指標:

● 多模光纖外徑250 um,保證電鏡系統真空指標;

● 可選光纖探針、平頭光纖;

● 配備快速SMA接頭、FC接頭;

 

加熱指標:

● 溫度范圍:室溫到1000 ℃;

● 溫度準確度優于 5% ;

● 溫度穩定性:優于±0.1 ℃。


產品特色

 可通過簡單更換MEMS芯片種類以及不同STM探針為樣品施加至多四種激勵,實現多種復雜的測試功能,完成以往無法實現的研究。

(1)高溫拉伸/壓縮(加熱芯片+電學STM探針);

(2)熱電子發射/場發射(加熱芯片+電學STM探針);

(3)三端器件測量(電學芯片+電學STM探針);

(4)電致發光現象研究(電學芯片+光學STM探針);

(5)光電現象研究(電學芯片+光學STM探針)。

 

          以上就澤攸科技PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統的介紹,關于整套系統價格請咨詢18817557412(微信同號)

          

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作者:小攸